IPLEX立体测量工业内窥镜
发布时间: 2018-05-04 17:10:03 作者:上海斌瑞检测技术服务有限公司 来源:上海斌瑞检测技术服务有限公司IPLEX立体测量工业内窥镜
1.立体测量的准备
• 显示实时画面时,将立体光学适配器安装到内窥镜顶端。
<对于RX 8.5 mm型>
请在适配器选择画面中选择所要使用的立体光学适配器, 然后按[MEAS/ENTER]操纵杆。
<对于RX4 mm和6 mm型> 确认立体光学适配器的名称及设定号是否正确,然后选择“确定”。按[MEAS/ENTER]操纵杆。
• 第一次使用立体光学适配器时,需要进行相应的安装。 请从菜单中选择[新立体测量光学适配器]选项,然后按照 画面指示进行操作。有关详情,请参阅使用说明书。
2.点测距—物距测量
• 将[ZOOM]杆向[W]侧倾斜,从而启动物距测量功能。
• 在物距之间出现绿色区域时,测量的精确度最高。 为取得最高的测量精度,应使插入管尽量靠近物体。
• 推动[MEAS/ENTER]操纵杆,进入立体测量画面。
• 立体测量画面中将一直显示物距值。
3.测量方法
执行立体测量后,或者立体测量画面中选择了“测量方法”时,将立刻显示测量方法(测量模式)选择画面。
有关可用的测量方法(测量模式),请参考阅读下页(有些功能不适用于RX)。
A直线距离
直线距离是指测量2个测量点连接线的长度
1.将光标置于线段一端,然后按MEAS/ENTER操纵杆以指定点A。
2.将光标置于线段另一端,然后按MEAS/ENTER操纵杆以指定点B。
→ 此时显示线段A-B的长度。
B 点到线距离
C偏移(仅限RX)
点到线距离和偏移测量是指测量从2个点指定的基准线到测量点之间 的距离。在偏移模式下,还将以测量点为起点,平行于基准线显示一条偏置线。
1.将光标置于线段两端,然后按MEAS/ENTER操纵杆以指定点A和B。
→ 此时显示基准线A-B。
2.将光标置于要测量其与基准线A-B之间距离的点上,然后按
MEAS/ENTER操纵杆,从而指定点C。
→ 此时显示基准线A-B与点C(或偏置线)之间的距离(偏移模式仅适用于IPLEXRX型)。
D深度
深度测量是指测量从3个点指定的基准面到测量点之间的距离。
1.将光标置于点A/B/C以定义基准面,然后按MEAS/ENTEP操纵杆以指定点A/B/C
→ 此时显示基准面ABC
2.将光标放置在测量到基准面ABC之间距离的点处,然后按MEAS/ENTER操纵杆以指点测量点D
→ 此时显示基准面ABC与点D之间的距离。正数(高度)表示该点与内窥镜探头的距离比基准面要近,而负数(深度)则表示该点距离更远。
E 面积/线距(仅限RX)
面积测量是指测量由多个测量点所定义的区域的面积。线距测量是 指测量由多个测量点所定义的线的总长度。
1.将光标置于用于定义面积/线的点处,然后按MEAS/ENTER操纵 杆以指定测量点。
→ 画面底端显示由多个测量点所定义的线的总长度。注:每次测量最多可以指定20个测量点。
2.测量面积时,还须指定另外一个测量点,以便定义完整的物体轮廓。该点(上例中的点6)的位置需确保从该点到最后一个测量点(点5)之间的连线与所画的第一条线相交。
→ 画面底端显示由这些线所围出的区域的面积。
4.存立体测量结果
•按住[FRZ/REC]按钮至少两秒钟,即可保存立体测量影 像及测量结果。
•“STILL”指示标记用于确认影像已记录。
•按[VIEW]按钮可随时显示所保存的影像。
5.立体测量高级功能
有关立体测量功能的更多详情,请参阅使用说明书。
•删除/全部删除--删除一个或删除所有测量点。
•单位-选择测量单位(mm或英寸)。
•修改(仅限RX)--微调左右影像上的光标位置。
•标题(仅限RX)--输入位于测量画面中央的标题(最多可输入30个字母数字字符)。
•光标(仅限RX)--选择光标的颜色、形状和速度。
•变焦窗口(仅限RX)--启动方式:将[ZOOM]杆向[T]侧
移动,可放大2倍至4倍。
•微定位(仅限RX)--当变焦比超过2倍时,将启动微定位模式,从而对光标进行更精细的控制。启动微定位模式时,中央光标变焦窗口中的“F”将高亮显示。
•利用保存的影像进行立体测量--借助于IPLEX RX、IPLEX RX系统或IPLEX VIEWER PLUS软件还可以进行 补充测量。
6.测量画面概
<对于RX>
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