测厚仪27MG校准步骤1
发布时间: 2016-06-14 17:36:50 作者:上海斌瑞检测技术服务有限公司 来源:上海斌瑞检测技术服务有限公司斌瑞检测27MG校准程序对测厚仪进行校准,以使仪器可以在某种特定温度下使用某种特定探头对某种特定材料进行精确测量。校准程序包括:
探头零位补偿:探头零位补偿校准声速在每个双晶探头延迟块中的传播时间。不同探头的传播时间会各不相同,且随温度而变化。启动测厚仪、更换探头货探头温度出现显著变化时,必须进行这个简单的无需试块的操作程序。
材料声速校准或校准声速:校准材料声速需使用一个玳佑已知厚度且材料与被测工件相同的厚试块进行,或者以手动方式输入一个以前确定的材料声速。测量每一种新材料时,都需要进行这种校准。
零位校准或校准零位:零位校准需使用一个带有已知厚度且材料与被测工件相同的薄试块进行。与前两种校准不同的是,零位校准操作只有在需要最佳对精度时才有需要进行(精确高于 ±0.10毫米或 ±0.004英寸)。如果需要,也只需在使用新的探头和材料组合时进行一次零位校准。当探头温度变化时,不需要重复进行零位校准。探头的零位补偿需根据探头的温度变化进行调整。
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