超声纵波检测技术（四）——非缺陷干扰波的判断

     在超声探伤中，非缺陷波常常会干扰我们对缺陷的准确判断，了解并熟练分析非缺陷波的产生和传播有助于我们探伤工作的准确性。通常来说，缺陷波的主要来源有：迟到波、结构反射波和杂波三种。

    迟到回波长生于同一反射体，其是因所经过的路径不同或发生波型转换延迟返回的波。

      CSK-1A 和CSK-3A侧壁迟到波如下所示：

      有时候缺陷也能产生迟到波，如下图所示缺陷迟到波，其经由侧壁发生波型，由缺陷发射的回波。

      在超声检测中有一种特殊的试块，其结构非常有意思，其就是61度反射特殊结构。假设入射角a，横波反射角B，若a+B=90°，则有sinB=cosa，由反射定律得

      也即是，无论直探头放置在试块61°角邻边的直角边上哪个位置，声速走过的声程都一样。具有相同效果的，在CSK-1A试块上,50mm的孔壁会产生45度 和61度反射波。

    在圆柱体的表面检测中，常常会遇到一种叫三角反射的非缺陷迟到波，如下图所示：

     其他类型的非缺陷波还有探头杂波，它是由设计和制作探头时的误差引起的多余振动而产生。工件轮廓波是由声波到达工件的台阶、螺纹等轮廓时产生的回波。耦合剂反射波:表面波检测时耦合剂引起的反射波。草状回波：探测频率过高时由晶粒粗大引起的杂波。

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